X-RAY检测为什么能够取代传统芯片检测方式？

IC芯片，大家或多或少有所了解吧？我们手上的手机、使用的电脑等器件里都有芯片，也称为集成电路。小小的一块芯片，其实包含了很多东西，比如电容、电阻等，所有的元件在一块基片上组成了一个整体，如此精密的电路，如果产生不良该如何检测呢？

传统的芯片检测方法是把芯片层层拨开，使用显微镜对芯片的每一层表面进行观察，这种方式不仅不能全面地观察芯片缺陷，还会对芯片造成一定的损坏。
而现在流行的X-RAY无损检测，不仅不会破坏芯片，还可以实现100%检测，完全解决了传统的芯片检测方式的弊端。X-RAY检测是利用X射线的穿透性，穿透被检物后在成像系统上显示出高清图像，人们可以清楚地看到芯片缺陷的位置以及大小。X-RAY无损检测除了能够应用在芯片检测上，还可以应用于LED灯珠、锂电池以及半导体等缺陷的检测。

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